Dünne Schichten von organometallischem Perowskit (~300nm) werden in der aktuellen Solarzellenforschung als innovatives, kostengünstiges Absorbermaterial eingesetzt. Um effiziente Solarzellen zu produzieren ist die Kontrolle der Oberflächenmorphologie eines der wichtigsten Kriterien. Gewünschte Eigenschaften sind homogene, vollständig abdeckende Schichten mit geringer Rauigkeit.

Bereits ein Loch von einigen Nanometern Durchmesser oder eine Rauigkeit über 20 Nanometer kann die Qualität der Absorberschicht jedoch merklich vermindern. Ziel des hier vorgeschlagenen Forschungsprojektes ist die systematische Untersuchung der Morphologie von gerakelten Perowskitschichten, die unter exakt kontrollierten Bedingungen trocknen. Hierfür kommen morderne Mikroskopiemethoden wie Scanning Electron Microscopy und Atomic Force Microscopy zum Einsatz.  Das Ergebnis könnte ein Modell der Morphologiekontrolle für gerakelte Perowskiteschichten sein, bei der durch gezielte Manipulation der Trocknungsparameter besondere morphologische Eigenschaften angepasst werden können.